2015年Anasys發布了最新一代產品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統的基礎上增加了散射近場光學成像和光譜功能（s-SNOM）。實現了同一平臺兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm，廣泛用于各種聚合物、有機無機復合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。

納米紅外&散射近場光學成像和光譜系統(nanoIR2-s)

AFM-IR &s-SNOM 

• AFM-IR 消除分析化學研究人員的擔憂--與FTIR光譜完全吻合，沒有吸收峰的任何偏移

• s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替傳統光纖探針來增強和散射樣品納米區域內的光輻射，空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑決定
  

• 專利技術實現智能的光路優化調整，無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度
  

• 最準確的定性微區化學表征，得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國權威機構的認可
  

• 簡單易用的操作，被三十多位企業用戶和近百位學術界所選擇
  

• 基于DI傳承的多功能AFM實現納米熱學，力學，電學和磁學測量：

•      納米熱分析模塊（nanoTA, SThM）

•      洛侖茲接觸共振模塊（LCR）

•      導電原子力顯微鏡鏡（CAFM）

•      開爾文電勢顯微鏡（KPFM）

•      磁力顯微鏡（MFM）

•      靜電力顯微鏡（EFM）

10納米空間分辨率化學成像和光譜

石墨烯等離子體 高分辨率成像

石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像；優于10nm的光學成像

PTFE的nano FTIR光譜顯示相干分子振動時域圖（上圖）,和相應的近場光譜（下左圖）。pNTP分子層的近場光譜（圖下右）。

上市時間：2018年5月

Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用獨有專利的光熱誘導共振技術（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限，提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。

Anasys 納米紅外&掃描近場光譜和成像系統由布魯克電子顯微納米分析儀器部為您提供，如您想了解更多關于Anasys 納米紅外&掃描近場光譜和成像系統 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。