高溫、氣氛可控表征；高達 800°C 及以上的高溫下的納米力學表征

高溫、氣氛可控表征

高達 800°C 及以上的高溫下的納米力學表征

了解高溫下的納米級機械性能的能力對于開發能夠在極端操作環境中可靠運行的材料至關重要。布魯克 xSol 高溫載物臺可在高達 800°C 的高溫下進行定量、準確和可靠的納米力學表征。

無可比擬的穩定性，可實現定量和可重復的結果

專有的載物臺設計采用低熱膨脹和隔熱材料的獨特組合，以實現高熱穩定性和較短的穩定時間。Duel高精度電阻加熱器由獨立的PID反饋回路控制，以加熱樣品的頂部和底部。加熱元件結構在舞臺內部形成了一個微環境，具有嚴格的溫度控制和均勻性。專有的探頭設計為等溫尖端-樣品接觸提供傳導和輻射尖端加熱。微環境可以用定制的氣態氣氛進行吹掃，以防止樣品表面發生反應性化學反應，例如氧化。

xSol加熱系統在很長一段時間內表現出高熱穩定性。

與一套強大的表征技術兼容

Hysitron xSol 載物臺與布魯克的原位 SPM 成像、納米壓痕、納米劃痕、納米磨損和納米DMA III獲得高溫下納米力學和摩擦學行為的全面知識的技術。可以在各種測試頻率和溫度下進行動態測試，以對納米級材料進行時間-溫度疊加研究。可以使用nanoDMA III的參考頻率技術進行長時間的蠕變測量。將 xSol 與加速屬性映射 （XPM）能夠快速測試和局部材料特性，使其能夠根據其預期的工作溫度進行徹底表征和調整。

XPM 測試后在 800°C 下拍攝的硅的 SPM 圖像。

xSol 高溫載物臺由布魯克電子顯微納米分析儀器部 為您提供，如您想了解更多關于xSol 高溫載物臺報價、參數等信息 ，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。