Contour GT-X家族三維光學顯微鏡為實驗室研究和生產工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計量方案。X3和X8型號集十代白光干涉技術設計之大成，成為市場上三維光學輪廓儀在測量速度、分辨率、重復性、準確性等性能上zei優和大批量生產中效率最佳的選擇。

布魯克的NPFLEXTM 3D 表表面測量系統為精密制造業帶來前所未有的檢測能力，實現更快的測量時間，提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統提供的技術性能超過了傳統的接觸式坐標測量儀（CMM）和工業級探針式輪廓儀的測量技術。

ContourGT表面計量系列產品用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀業界zei高垂直分辨率極高的可靠性和zei好的測量重復性zei高的表面測量和分析速度zei強的使用性，操作簡便，分析功能強大30年技術革新，實現非接觸...

ContourGT-K三維光學顯微鏡完善了表面測量和分析的新標準，這套測量系統擁有工業領先的測量性能和靈活性，采用專利白光干涉技術，超大視野內埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有業界最高的垂直分辨率和測量重復性。

布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。

ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成，將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活，優秀的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能。

Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker  new Dektak XTL stylus profiler accommodates samples up to 350mm x 350mm, bringing legendary Dektak@repeatability and reproducibility to large-format wa...

ContourGTInMotion三維光學顯微鏡具有最先進、最可靠、最全面的表面分析功能，能夠實時表征運行中的動態MEMS器件及其他微器件的形態。

布魯克Contour Elite?三維光學顯微鏡在已經業界廣泛使用的技術領先的平臺上，進一步增強Vision64?軟件的用戶易用性，創新性加入全新的成像軟硬件，拓展高保真成像能力。