布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年 Dektak技術創新的頂峰，更加鞏固了其行業領先地位。不論應用于研發還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

    　　DektakXT完美設計

    　　探針系統的評價體系受三個因素影響：能否重復測量，數據采集和分析速度快慢，操作的難易程度。這些因素直接影響了數據的質量和操作效率。DektakXT利用全新結構和和zei佳軟件來實現可重復、時間短、易操作這三個必要因素，達到zei佳的儀器使用效果。

    　　強化操作的可重復性 Delivering Repeatable Measurements

    　　DektakXT 在設計上的幾個提高，使其在測量臺階高度重復性方面具有優異的表現，臺階高度重復性可以到達5Å.使用single-arch結構比原先的懸臂梁設計更堅硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。同時，Bruker還對儀器的智能化電子器件進行完善，提高其穩定性，降低溫度變化對它的影響，并采用先進的數據處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會把可能引起誤差的噪音降到zei低，DektakXT的系統因此可以更穩定可靠的實現對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結構和智能器件的聯用，大大降低了掃描臺的噪音，增強了穩定性，使其成為一個極具競爭力的臺階儀(表面輪廓儀)。

    　　提高數據采集和分析速度 SpeedingUpCollectionand Analysis

    　　利用獨特的直接掃描平臺，DektakXT通過減少從得到原始數據到扣除背底噪音所需要的時間，來提高掃描效率。這一改進，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描的掃描速度。在保證質量和重復性的前提下，可以將數據采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker 64-Bit數據采集分析同步操作系統Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數據分析處理效率。Vision64還具有zei有效直觀的用戶界面，簡化了實驗操作設置，可以自動完成多掃描模式，使很多枯燥繁復的實驗操作變得更快速簡潔。

    　　完善的操作和分析系統 PerfectingOperationand Analysis

    　　與 DektakXT的創新性設計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上zei實用簡潔的用戶界面，具備智能結構，可視化的使用流程，以及各種參數的自助設定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡便的實現各種類型數據的采集和分析。

    　　DektakXT 技術參數

• 臺階高度重復性5Å

• Single-arch設計大大提高了掃描穩定性

• 前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾

• 新的硬件配置使數據采集能力提高了40%

• 64-bit，這一Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度提高了十倍。

    　　功能卓越，操作簡易

• 直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行

• 針尖自動校準系統讓用戶更換針尖不再是難事

    　　臺階儀(表面輪廓儀)領域無可撼動的世界領先地位

• 布魯克的臺階儀，體積輕巧，功能強大。

• 單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯
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DektakXT探針式表面輪廓儀

布魯克DektakXT探針輪廓儀通過革新設計單拱龍門式設計使系統更穩定使其較前代產品在掃描速度上提高40%，與此同時實現測量重復性達到無與倫比的5埃以下（<5?）的業內zei高水平。這一里程碑式的產品源自于Dektak系列占據業界領先地位長達四十年的優異表面測量技術。保持業界一貫的領先優勢，通過采用獨特的單拱龍門設計和“智能化電子器件”，使其達到無可匹敵的測量性能和重復性。首次采用的高清真彩相機提高了圖像分辨率，而64位數據并行處理軟件則加速了分析速度，使用戶易于使用。DektakXT所具備的卓越性能和高效率使用戶在材料研究和產品質量監控方面保持領先。所有這些技術上的巨大突破使得這一第十代Dektak產品可用于納米級薄膜，臺階和表面的測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫療、科學研究和材料科學領域大顯身手。

DektakXT探針式表面輪廓儀由布魯克電子顯微納米分析儀器部為您提供，如您想了解更多關于DektakXT探針式表面輪廓儀 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。