ContourGT-I 三維光學顯微鏡

全球首創的掃描頭傾斜自動樣品臺桌面型測量系統

 ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成，將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活，優秀的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能。通過布魯克獨有的掃描頭傾斜技術，該系統可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化，從而輕松實現在一定角度內自動傾斜對表面特征進行測量。zei新一代的Vision64™ 軟件結合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性，更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品，在桌面型系統上實現了以往從未有過的各種特性。

實現更快，更簡便測量

• 自動光學傾斜測量頭

• 全自動X,Y, Z樣品臺

• 自動光鏡轉塔，放大鏡，和測試光選擇

更靈活而穩定的防震

• 集成式充氣式防震臺

• 高穩定度，空間節省

更強大的測量和分析

• 簡單明了，人性化的工作流程

• 實時自動優化測量

• 完整的數據分析軟件包

• 可定制的分析報告

測量高效

布魯克獨有的傾斜測量頭為用戶提供了極大的靈活性，實現快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結合頭部傾斜功能，布魯克這一技術實現了將觀察位置始終保持在焦平面處，為用戶實際使用時帶來了很大便利。

準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的，這樣在批量測試時速度也大大提高。

臺階高度準確性

這一特點結合樣品臺與物鏡的電動控制使得Contour GT-I 成為了具有較小占地卻能同時滿足多種測試要求的測量平臺。

業界zei方便靈活的測量方式

除上述優點外，ContourGT-I通過獨有的設計直接在機臺上集成防震系統，使其直接滿足各種環境條件，包括工廠，實現迅速準確地測量。

這一經過嚴格測試的防震系統為用戶提供不折不扣

的優化測試條件，從而得到重復性極佳的定量數據。

布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯
Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 歡迎訂閱優酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻，觀看zei新的AFM產品和相關技術進展，以及歷屆網絡研討會和培訓資料，精彩內容持續更新中！
http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy

布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces
北京辦公室北京市海淀區中關村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室

上海辦公室上海市徐匯區漕河涇開發區桂平路 418號新園科技廣場 19樓

E-mail：Sales.asia@bruker-nano.com

產品咨詢熱線：010-5833 3252 www.bruker.cn\SOM

布魯克ContourGT-I 三維光學顯微鏡由布魯克電子顯微納米分析儀器部 為您提供，如您想了解更多關于布魯克ContourGT-I 三維光學顯微鏡報價、參數等信息 ，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。