高分辨率、高靈敏度和低檢測限
簡單的儀器提供經(jīng)濟實惠的科學(xué)，可靠且經(jīng)濟實惠的 EBSD，適配臺式 SEM
QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器，是分析 SEM 中納米材料的理想化解決方案。
適合不同電子顯微鏡極靴類型的的 EDS 細(xì)管徑設(shè)計和優(yōu)化的EDS，幾何構(gòu)型確保了最優(yōu)的信號采集角和檢出角全面的K、L、M 和N 線系原子數(shù)據(jù)庫，完美匹配低電壓分析可定制無窗探測器進一步提高低能端的檢測性能強大的混合...
XFlash 7T - 納米尺度上的彩色圖像: 用于 TEM 和 SEM STEM 的 EDS
最新 EDS 探頭系列，優(yōu)化的設(shè)計 ，更好的分析，快速、精準(zhǔn)、可靠
清晰的多功能測量裝置和細(xì)管徑幾何構(gòu)型可確保在常規(guī)基礎(chǔ)上快速可靠的采集 TEM EDS 數(shù)據(jù)。
僅使用中等電流就可以進行極快的面分析表征;可以在極低電流(
ContourGT表面計量系列產(chǎn)品用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學(xué)輪廓儀業(yè)界zei高垂直分辨率極高的可靠性和zei好的測量重復(fù)性zei高的表面測量和分析速度zei強的使用性，操作簡便，分析功能強大30年技術(shù)革新，實現(xiàn)非接觸...
布魯克的NPFLEXTM 3D 表表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來前所未有的檢測能力，實現(xiàn)更快的測量時間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超過了傳統(tǒng)的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。
Dimension FastScan 世界上掃描速度zei快的原子力顯微鏡 掃描速度的全新詮釋，擁有zei高的掃描分辨率，zei優(yōu)異的儀器檢測性能 Dimension FastScanTM原子力顯微...
布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5?。
Contour GT-X家族三維光學(xué)顯微鏡為實驗室研究和生產(chǎn)工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計量方案。X3和X8型號集十代白光干涉技術(shù)設(shè)計之大成，成為市場上三維光學(xué)輪廓儀在測量速度、分辨率、重復(fù)性、準(zhǔn)確性等性能上zei優(yōu)和大批量生產(chǎn)中效率最佳的選擇。
ContourGT-K三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測量系統(tǒng)擁有工業(yè)領(lǐng)先的測量性能和靈活性，采用專利白光干涉技術(shù)，超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有業(yè)界最高的垂直分辨率和測量重復(fù)性。
Dimension Edge 原子力顯微鏡 Dimension家族新成員，閉環(huán)掃描，極高性價比 快速測量、結(jié)果準(zhǔn)確、圖像分辨率高 測試范圍廣，適用于任何樣品的測試 先進的納米尺度測量，適用于各技術(shù)水平Dimension Edge ...
Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker new Dektak XTL stylus profiler accommodates samples up to 350mm x 350mm, bringing legendary Dektak@repeatability and reproducibility to large-format wa...
Dimension Icon 原子力顯微鏡(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領(lǐng)域的納米研究中將會得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的最新款設(shè)備,它基于世界上應(yīng)用最廣泛的AFM平臺，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統(tǒng)，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用獨有專利的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。
2016年Anasys發(fā)布了最新一代產(chǎn)品nanoIR2-FS，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上實現(xiàn)快速掃描功能，光譜采集速度<3s/光譜；專利的輕敲模式納米紅外將空間分辨率提高至10nm以上，并大大提高紅外成像速度，并使得較軟的生物材料等軟物質(zhì)的化學(xué)成像實現(xiàn)質(zhì)的飛躍。
標(biāo)配超低負(fù)荷能力、動態(tài)測試和原子力顯微鏡成像，并提供閉環(huán)控制以實現(xiàn)實驗參數(shù)的最優(yōu)化。提供真正的納米機械性能測試能力，遠(yuǎn)超一般納米壓痕技術(shù)
布魯克TI 980高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)是布魯克公司研制的自動化、高通量的測試儀器，可以用來表征材料多項納米力學(xué)性能，包括硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、破裂韌性、失效、蠕變、粘附力（結(jié)合力）等力學(xué)數(shù)據(jù)。
布魯克Hysitron TI Premier高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)是布魯克公司研制的自動化、高通量測試儀器，通過納米級位成像，可實現(xiàn)壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征。
布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng)，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測整個材料動態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化，中間過程無法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋，甚至單從曲線分析會導(dǎo)致錯誤的解釋。
