17180192385
虛擬號將在180秒后失效,請在有效期內撥打
若未完成電話咨詢，您可提交留言咨詢，廠商主動聯系您
咨詢列表
安捷倫科技（中國）有限公司
適合不同電子顯微鏡極靴類型的的 EDS 細管徑設計和優(yōu)化的EDS，幾何構型確保了最優(yōu)的信號采集角和檢出角全面的K、L、M 和N 線系原子數據庫，完美匹配低電壓分析可定制無窗探測器進一步提高低能端的檢測性能強大的混合...
清晰的多功能測量裝置和細管徑幾何構型可確保在常規(guī)基礎上快速可靠的采集 TEM EDS 數據。
僅使用中等電流就可以進行極快的面分析表征;可以在極低電流(
XFlash 7T - 納米尺度上的彩色圖像: 用于 TEM 和 SEM STEM 的 EDS
最新 EDS 探頭系列，優(yōu)化的設計 ，更好的分析，快速、精準、可靠
