17180192385
虛擬號將在180秒后失效,請在有效期內撥打
若未完成電話咨詢，您可提交留言咨詢，廠商主動聯系您
咨詢列表
安捷倫科技（中國）有限公司
| 產地類別：進口 | 產地類別：進口 | 供應商性質：生產商 | ||
| 供應商性質：生產商 | 儀器種類：原子力顯微鏡 | 價格范圍：100萬-150萬 | 價格范圍：100萬-200萬 | 儀器種類：非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
Park NX10 原子力顯微鏡 奈米科技研究的理想選擇 |  |
 | 創新研究的理想選擇 Park NX10為您帶來高精納米級分辨率的數據，值得您信賴、使用和擁有。 無論是從樣品設定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證您專注于創新研究工作的同時提供高精度的數據。 |
—————————————————————————————————————————————————
創新研究的特征
Park SmartScan 智能模式 在SmartScan Auto專有的智能模式下，系統自動執行所需要的成像操作，同時智能選擇高品質的圖像質量和掃描速度。 這是通過Park的專有技術才得以實現的。 它不僅可以為您節省時間和金錢，還可以給您帶來滿意的研究結果。 |
Park 消除串擾技術 Park NX10為您帶來高精納米級分辨率的數據，值得您信賴、使用和擁有。 它是一款非接觸式原子力顯微鏡，在延長探針使用壽命的同時，還能良好地保護您的樣品不受損壞。 可彎曲的獨立XY掃描儀和Z掃描儀可帶來較高精準度和分辨率。 | |
Park原子力顯微鏡模式 Park原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式，因此您可以準確有效地收集各種數據類型。 從使用非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性到磁力顯微鏡， Park在原子力顯微鏡領域為您提供引領創新、精準的模式。 |
Park NX10 掃描離子電導顯微鏡模塊 Park NX10掃描離子電導顯微鏡模塊為廣泛的應用，細胞生物學，分析化學，電生理學和神經科學提供納米級成像。 |
—————————————————————————————————————————————————
Accurate AFM Solutions for General Research
| Tall Sample 1.5 μm step height | Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer | |
 |  | |
| √ 掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌 | √ 臺階高度0.3 nm,掃描模式：非接觸模式,Z軸位置傳感器的形貌 | |
| Hard Sample Tungsten film | Soft Sample Collagen fibril | |
 |  | |
| √ 掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌 | √ 掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌 |
Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector
Park NX10原子力顯微鏡的低噪聲Z探測器 √ NX系列核心技術 √ 業界引領的低噪聲 √ 默認的形貌信號 | Z軸探測器是全新NX系列原子力顯微鏡的核心技術之一。 它是Park的創新型應變傳感器。 憑借著0.2埃的低噪聲一躍成為行業內噪聲較低的Z軸探測器。 低噪聲讓Z軸探測器可作為默認的形貌信號，全新的NX系列原子力顯微鏡與前幾代的原子力顯微鏡的差異可輕易被觀察到。 如果Z軸探測器的噪聲過高，用戶無法觀察到藍寶石晶片的原子臺階。 Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測器所發出的高度信號，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。 |
—————————————————————————————————————————————————
——Park NX Series——
Park NX Z軸探測器的噪聲水平 |
NX10所探測的藍寶石晶片形貌 |
——Park XE Series——
Park XE Z軸探測器的噪聲水平 |
XE-100所探測的藍寶石晶片形貌a |
—————————————————————————————————————————————————
Accurate AFM Scan by True Non-Contact? Mode
True Non-Contact? Mode
| Tapping Imaging
|
√ 針尖磨損更低=高分率掃描更長久 √ 無損式探針-樣品接觸=大限度減少樣品受損程度 √ 可滿足各種條件下對各種樣品進行非接觸式掃描
| ！針尖磨損更快=模糊，低分辨率掃描 ！破壞性的探針-樣品接觸=樣品易受損 ！參數高依賴性
|
—————————————————————————————————————————————————
The Best User Convenience by Design
專有的設計能讓您輕易地用手從側面更換新的探針和樣品。 借助安裝懸臂式探針夾頭中預先對齊的懸臂，無需再進行繁雜的激光校準工作。 |
|
—————————————————————————————————————————————————
閃電般快速的自動近針
 | 自動的探針樣品進針功能能讓用戶無需進行干預操作。 通過監測懸臂接近表面的反應，Park NX10能夠在懸臂裝載后十秒內開始并自動快速完成探針樣品進針操作。 高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得無需用戶干預就能快速接觸樣品表面。 |
—————————————————————————————————————————————————
快速精準的SLD光校準
憑借我們領跑的預校準懸臂架，懸臂在裝載時SLD光便已聚焦完畢。 此外，自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點。 由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過旋轉兩個定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動光點。 這樣您可以在激光準直頁面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。 此時您只需要稍微調整信號，便可開始獲取數據。
—————————————————————————————————————————————————
Park NX10 features
掃描范圍為50um x 50um 的2D掃描器
XY軸掃描器有對稱的二維高強度壓電疊堆。 它可為進行精確的納米級樣品掃描，提供基本的面外高效正交運動和高響應能力。 Park NX10的這種緊密剛硬的構造具備低噪聲高速的伺服響應能力。 | 高速Z軸掃描器,掃描范圍達15um
借助高強度壓電疊堆和撓性設計，標準Z軸掃描器的共振頻率高達9kHz(一般為10.5kHz）且探針的Z軸速率不低于48mm/秒。 Z軸掃描范圍可從標準的15 μm擴展至30 μm（可另選Z掃描頭）。 | |
低噪聲XYZ位置傳感器
行業前沿的低噪聲Z軸探測器代替Z電壓作為形貌信號。 低噪聲XY閉環掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。 | 驅動XY軸樣品臺
XY軸樣品臺是驅動化的，以便于將樣品導航并定位到掃描區域。 這種驅動臺在這兩個軸上的分辨率同為0.6um（使用微步）。 | |
自動步進掃描 借助驅動樣品臺，步進掃描可編程多區域成像，以下是它的工作流程： 1) 掃描成像 2) 抬起懸臂 3) 移動驅動平臺到設定位置 4) 進針 5) 重復掃描
該自動化功能可大大減少掃描過程中手動需求，從而很大程度上提高生產力。 | 操作方便的樣品臺
Park NX10的特有頭部設計可使用戶從側面操作樣品和探針，用戶在樣品臺上可放置的樣品體積 up tp 50mm× 50mm×20mm（長×寬×高）。 | |
滑動崁入SDL鏡頭的自主固定方式
您只需滑動嵌入燕尾導軌便可輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。 該設計可將鏡頭自動鎖定至預對準的位置，同時與復位精度為幾微米的電路系統相連接。 借助于相關性低的SLD，顯微鏡可精準成像并可準確測定力-距離曲線。 | 結合了集成LED照明的同軸高倍顯微鏡
超長工作距離的定制物鏡（工作距離50mm, 數值孔徑0.21，分辨率1.0 μm ）帶來高精鏡頭清晰度。 直視同軸設計使得用戶可輕易在樣品表面尋找目標區域。 EL20x的長行程物鏡的大尺寸CCD可為您在高視角前提下提供0.7 μm的高分辨率。 | |
高級掃描探針顯微鏡模式和選項的擴展槽
只需將可選模塊插入擴展槽便可激活高級掃描探針顯微鏡模式。 得益于NX系列原子力顯微鏡的模塊設計，其生產線設備兼容性得到大大提高。 | 垂直調節驅動的Z平臺和聚焦平臺
驅動Z平臺和驅動聚焦平臺可使懸臂檢測樣品表面并為用戶持續提供清晰的圖像。 用戶通過軟件界面進行操控，由高精度步進電機帶動，即使是透明樣品或液池應用中都可簡單操作。 | |
高速24位數字控制器
所有NX系列的原子力顯微鏡都是由相同的NX電子控制器進行控制和處理。 該控制器是個全數字，24位高速控制器，可確保True Non-Contact?模式下的成像精度和速度。 憑借著低噪聲設計和高速處理單元，該控制器也是納米成像和精準電壓電流測量的理想選擇。 嵌入式數字信號處理為原子力顯微鏡帶來更為豐富的功能，更好的解決方案，是高級研究員的理想選擇。 XY和Z軸檢測器的24位信號分辨率 ?XY軸（50 μm）的分辨率為0.003 nm ?Z軸（15 μm ）的分辨率為0.001 nm 嵌入式數字信號處理功能 ?三通道數碼鎖相放大器 ?彈簧系數校準（熱方法） ?數據Q控制 集成式信號端口 ?專用可編程信號輸入/輸出端口 ?7個輸入端口和3個輸出端口 |
—————————————————————————————————————————————————
Park NX10技術參數
掃描器 | Z掃描器 柔性引導高推動力掃描器 掃描范圍: 15 μm (可選30 μm) 高度信號噪聲等級: 30 pm 0.5 kHz bandwidth, rms (typical) | XY掃描器 閉環控制的柔性引導XY掃描器 掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm) |
驅動臺 | Z位移臺行程范圍 : 25 mm (Motorized) 聚焦樣品臺行程范圍 : 15 mm (Motorized) | XY位移臺行程范圍 : 20 mm x 20 mm (Motorized) |
樣品架 | 樣品尺寸: 開放空間 up to 100 mm x 100 mm，厚度 up to 20 mm 樣品重量 : < 500 g | |
光學 | 10倍 (0.23 N.A.)超長工作距離鏡頭 (1μm分辨率) 樣品表面和懸臂的直觀同軸影像 視野 : 480 × 360 μm (帶10倍物鏡) CCD : 100萬像素, 500萬像素 (可選) | |
軟件 | SmartScan? AFM系統控制和數據采集的專用軟件 智能模式的快速設置和簡易成像 手動模式的高級使用和更精密的掃描控制 | XEI AFM數據分析軟件 |
電子 | 集成功能 4通道數字鎖相放大器 彈性系數校準(熱方法，可選) 數據Q控制
連接外部信號 20個嵌入式輸入/輸出端口 5個TTL輸出 : EOF, EOL, EOP,調制和交流偏壓 | |
AFM模式 (*可選項） | 標準成像 真正非接觸式原子力顯微鏡 PinPoint? 原子力顯微鏡 接觸式原子力顯微鏡 橫向力顯微鏡 (LFM) 相位成像 輕敲式原子力顯微鏡
力測量 力-距離(F/d)光譜 力譜成像
介電/壓電性能 靜電力顯微鏡(EFM) 動態接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC) 壓電力顯微鏡(PFM) 高壓壓電力顯微鏡*
機械性能 力調制顯微鏡(FMM) 納米壓痕* 納米刻蝕* 高壓納米刻蝕* 納米操縱* | 磁學特性* 磁力顯微鏡(MFM) 可調制磁力顯微鏡
電性能 導電原子力顯微鏡(C-AFM)* IV譜線* 掃描開爾文探針顯微鏡(KPFM) 掃描電容顯微鏡(SCM)* 掃描電阻顯微鏡(SSRM)* 掃描隧道顯微鏡(STM)* 光電流測繪 (PCM)*
化學性能* 功能化探針的化學力顯微鏡 電化學顯微鏡(EC-AFM) |
| 原子力顯微鏡選項 | 溫度控制 溫控臺 1 -25 °C to +170 °C 溫控臺 2 Ambient to +250 °C 溫控臺 3 Ambient to +600 °C
液體池 通用液體池 有液體/氣體灌注的開放式或封閉式液體池 控溫范圍: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid) 電化學池 開放式液體池 | 液下探針柄 專為在一般液體環境中成像而設計 對大多數包括酸在內的緩沖溶液具有抗腐蝕性 可在液體中進行接觸式和非接觸式原子力顯微鏡成像
磁場發生器 施加平行于樣品表面的外部磁場 可調磁場 Range : -300 ~ 300 gauss 由純鐵芯和兩個電磁線圈組成 |
帕克 NX10 原子力顯微鏡由Park帕克原子力顯微鏡為您提供，如您想了解更多關于帕克 NX10 原子力顯微鏡 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
| 采購單位 | 行業 | 采購時間 |
|---|---|---|
| 西安交通大學 | 材料 | 2016-03-29 |
| 上海交通大學 | 科學研究 | 2016-08-11 |
| 陜西科技大學 | 材料 | 2017-06-14 |
| 東北電力大學 | 其他 | 2017-08-11 |
| 湖南大學 | 生命科學 | 2017-10-11 |
| 江西師范大學 | 儀器儀表 | 2016-03-25 |
