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關注生命科學與材料學 2018年北京市電子顯微學年會開幕

2018.12.18

　　分析測試百科網訊 2018年12月18日，2018年度北京市電子顯微學年會在北京市天文館隆重召開。此次會議旨在推動北京及周邊省市廣大電子顯微學的學術及技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。本次會議共有200余人出席。分析測試百科網作為支持媒體為您帶來全程報道。

簽到處

會議現場

北京理化分析測試技術學會秘書長桂三剛

　　北京理化分析測試技術學會秘書長桂三剛為本次會議致辭。桂三剛表示一年一度的北京電鏡年會在天文館再次召開。今年電鏡年會報名人數再創新高，同時，電鏡年會也為聽眾準備了精彩的報告。北京理化分析測試技術學會下屬的北京電鏡學會是一只活躍的學術團隊，希望在新一屆領導成員的帶領下更創高峰。最后，桂三剛預祝2018年北京電子顯微學年會圓滿成功。

清華大學姜開利教授

　　本次年會首先由清華大學姜開利教授帶來報告，題目是“一維和二維納米材料的快速表征技術”。姜開利表示，碳納米管由二維石墨烯卷曲而成，其機械強度、導熱性、導電性等多項性能優異，因此課題組開展碳納米管場效應管晶體管表征研究，例如SEM下識別CNTs的導電性和帶隙、蒸汽凝結輔助光學顯微鏡表征、瑞利散射光學顯微鏡表征以及大束斑、低電壓、透射式電子衍射表征。雖然SEM是一種性能優異的表征工具，但其也存在低電壓工作時辨率低等問題，因此課題組通過提高電壓來提高分辨率和對比度，并且取得很好的檢測結果。在進行瑞利散射方法進行表征時，除了可以分析碳納米管材料，也可以分析其他半導體材料。采用電子衍射表征則擁有加速電壓低、電子束斑小等優點，因此對于碳納米管表征有為明顯的優勢。

天美(中國)科學儀器有限公司電鏡市場部經理高敞

　　由天美(中國)科學儀器有限公司電鏡市場部經理高敞帶來會議報告，題目是“日立電鏡的最新技術與解決方案”。高敞首先介紹了日立OM-EM聯用技術，并同時介紹了相應的制樣及分析流程流程。高敞表示，日立OM-EM聯用技術優勢在于無品牌要求，任何品牌均可接入這套系統，同時SEM或TEM均可使用。隨后介紹了冷凍傳輸-SEM聯用系統，相比于傳統制樣手段，其具有樣品無皺縮失真、制樣速度快、可觀察液體樣品以及樣品內部結構等優勢。最后，高敞介紹了通過使用這套系統的實例分析案例，例如酵母細胞，脂質體內部結構，水稻根毛，藍芝士，含油和水的礦石，潤膚霜，牙膏，水溶膠等。

中國科學院自動化研究所韓華研究員

　　由中國科學院自動化研究所韓華研究員帶來會議報告，題目是“微觀腦連接圖譜的掃描電鏡三維重建技術及進展”。韓華表示，如果需要觀察神經元鏈接需要在納米尺度在觀察，傳統分析手段則有STEM、SBEM、ATUM和FIB-SEM等，并且，大腦皮層網絡智能研究在國際范圍逐年增長，競爭日趨激烈。介紹，韓華介紹了突出水平圣經大數據與重建平臺。目前，該平臺已經配備FE-SEM 10臺，其他設備30臺。同時，該平臺在制樣、表征、數據處理等方面也進行了人員儲備和相應方法開發。最后，韓華表示，這個項目得到了國家懷柔科技城的支持。

牛津儀器科技（上海）有限公司納米分析部高級應用工程師?楊小鵬

　　由牛津儀器科技（上海）有限公司納米分析部高級應用工程師楊小鵬帶來會議報告，題目是“牛津儀器EDS和EBSD技術的最新進展和應用”。首先，楊小鵬介紹了牛津儀器的Ultim系列能譜儀的特點、優勢，例如更大晶體面積、高靈敏度、高空間分辨率、準確定量，實現實時能譜。隨后介紹了Ultim Extreme無窗超級能譜，這款產品具有工作距離短、優異低能端性能、超高空間分辨率。與此同時，楊小鵬也介紹了Ultim Max透射能譜，其具有大立體角、票及校正功能、可測量高溫樣品以及可測量樣品質量厚度。最后，介紹了牛津EBSD的最新應用，例如金礦樣品Au分布、甲基胺碘化鉛等。

北京生命科學研究院季剛高級工程師

　　由北京生命科學研究院季剛高級工程師帶來會議報告，題目是“在電鏡領域多個儀器功能開發項目的情況匯報”。季剛介紹了大分子高分辨結構解析、組織細胞超微結構分析以及OM-EM聯用技術用于大尺寸電鏡三維重構。

日本電子野久尾毅

　　由日本電子野久尾毅帶來會議報告，題目是“Introduction of JEOL Hi-End FE-SEM and Method of specimen preparation by CP”。野久尾毅介紹了日本電子的JSM-7900F透射電鏡。其采用實時電子特性仿真算法以及配有精準自動對焦和散光功能，并且JSM-7900F具有0.6 nm分辨率和光束減速器，配備SHL透鏡、納米室等，同時，這款透鏡可配備EDS、EBSD、SXES等。隨后，野久尾毅介紹了日本電子SXES系列能譜儀并介紹了大量分析實例，同時也介紹了使用CP裝置進行切片的實例。

中國科學院物理研究所王立芬

　　由中國科學院物理研究所王立芬帶來會議報告，題目是“石墨烯反應池中氯化鈉成核結晶的原位透射電鏡表征”。王立芬表示，基于經典成核理論，課題組通過利用原位TEM開展研究NaCl成核過程和原理。通過研究發現，NaCl溶液在借助石墨烯成核時并非屬于經典成核過程，并且分為兩步。首先，NaCl溶液憑借石墨烯形成單晶體，隨后形成新相，在此之后，NaCl晶體保持六邊形結構繼續擴大。此外，通過動力學計算，課題組發現立方形NaCl是所有NaCl晶型中能量最低態，但仍然存在亞穩態相，因此課題組將對此展開詳細研究。

賽默飛世爾科技(中國)有限公司楊光

　　由賽默飛世爾科技(中國)有限公司楊光帶來會議報告，題目是“Thermo fisher 透射電鏡新技術進展”。楊光首先介紹了賽默飛下一代S-CORR、成像軟件iDPC

　　等最新技術以及這些新技術的實際分析案例。隨后，楊光介紹了Optistem+軟件、Potimono和EMPAD軟件的優點和成像實例，并且楊光表示，這些輔助軟件均可在最新的Themis Z S/TEM中實現。

EMSIS 尚振華

　　由EMSIS尚振華帶來會議報告，題目是“高速TEM相機系統”。尚振華表示，EMSIS主要關注于TEM相機的研發，隨后介紹了EMSIS最新研發的XAROSA CMOS相機。這款相機其具有2000萬像素，最高分辨率30 fps，采用獨立水冷以及配備高速錄像功能。同時，尚振華介紹了新一代側插高速相機S12U，這款產品具有1200萬像素，最高分辨率為15 fps，并且具有大視野以及全域快門。最后介紹了EMSIS發布的SPARK和JOLT兩款產品。

北京大學高寧教授

　　由北京大學高寧教授帶來會議報告，題目是“冷凍電鏡三維重構在生物大分子結構解析中的應用”。高寧表示，在上世紀，TEM主要被用于膜蛋白晶體解析，在結合冷凍制樣方法和采用直接電子探測器后，Cryo-TEM在生物學分析中逐漸發揮出不可或缺的作用。隨后，高寧介紹了3D冷凍電鏡工作流程，即通過同一顆粒不同的二維投影的重構后，可獲得該顆粒的原始三維結構。此后，高寧介紹了使用三維重構技術獲得核糖體蛋白質三維結構的實際案例。最后，高寧介紹了制樣中常見問題。

布魯克(北京)科技有限公司李國梁

　　由布魯克(北京)科技有限公司李國梁帶來會議報告，題目是“在SEM中實現sub-5 nm EDS和1 nm分辨率的EBSD分析”。李國梁首先介紹了FlatQUAD EDS的硬件設計，其具有，超高速、高分辨、低電流速以及無陰影的特點，隨后有介紹了使用這款設備的分析案例。同時，李國梁介紹了布魯克Optimus同軸TKD探頭。李國梁表示，通過與離軸TKD和同軸TKD的信號、花樣、分辨率對比，采用同軸設計的TKD探頭均可獲得良好測試結果。最后，李國梁介紹了使用同軸TKD在半導體行業中的實際分析案例以及Argus成像。

泰思肯貿易(上海)有限公司市場部經理顧群

　　由泰思肯貿易(上海)有限公司市場部經理顧群帶來會議報告，題目是“TESCAN微分析綜合解決方案”。顧群表示，針對目前電鏡分析時存在的問題，TESCAN開發出綜合電鏡分析平臺，例如FIB-SEM-TOF-SIMS平臺，SEM-Raman一體化分析系統。隨后，顧群介紹了TESCAN鋰電池-微分析綜合解決方案以及詳細分析過程。

Ametek 夏為民

　　由Ametek夏為民帶來會議報告，題目是“EDAX公司微束分析技術的新亮點”。夏為民首先介紹了EDAX公司的實時加熱與低真空環境下的EDS和WDS、基于CMPOS電路的TEM能譜檢測器、基于CdTe芯片的新型EDS檢測器、基于CMOS相機的EBSD系統、DeD EBSD以及相應的特點和檢測實例。隨后，夏為民介紹了用于擴展能量范圍的新型EDS檢測器以及EDAX公司的EBSD檢測器及相應分析實例。

北京中科科儀股份有限公司電鏡事業部經理范斌

　　由北京中科科儀股份有限公司電鏡事業部經理范斌帶來會議報告，題目是“最新一代國產場發射掃描電鏡性能介紹”。范斌介紹了中科科儀的FE-SEM，型號為EM8100，其分辨率為0.9 nm，30 kV。隨后，范斌介紹了EM8100的應用成果，例如摻雜碳材料形貌演化規律、22 nm現代集成電路工藝研究、大尺度生物樣品三維體字電子顯微學方法研究、定性和定量解析PM2.5及更細顆粒物溯源等。最后，范斌介紹了中科科儀目前在研的應用技術及解決方案，例如，光發射電子顯微鏡、集成納米操作機、飛秒激光器聯用SEM等。

卡爾蔡司（上海）管理有限公司秦艷

　　由卡爾蔡司（上海）管理有限公司秦艷帶來會議報告，題目是“蔡司離子顯微鏡技術在三維重構應用中的介紹”。秦艷首先介紹了蔡司的GeminiSEM平臺，這套可以實現低電壓下的高分辨觀察，也可以實現高效輸出和長時間的穩定性。隨后，秦艷介紹了蔡司Atlas控制軟件。這款然間可精密控制加工的樣品厚度以及相應分析具體來源，以便獲得最佳的三維重構分析結果。除了獲得形貌三維重構圖像外，使用Atlas軟件也可以同時獲得3D組成成分。除了傳統三維重構分析外，也可以使用這款軟件獲得3D EBSD信息。

北京科技大學王守國教授

　　由北京科技大學王守國教授帶來會議報告，題目是“Magnetic?contrast?by?photoemission electron microscopy (PEEM) excited by deep ultraviolet laser”。王守國表示，PEEM是分析磁性物質最好的方法之一，可以同時獲得磁信號和表面形貌信息，課題組通過使用改進的中國獨有的DUV PEEM對磁性物質進行分析。經過實際對比，相比于傳統分析方法，DUV PEEM在磁成像方面可以達到43nm分辨率，同時在分析FePt薄膜等材料時同樣可以獲得清晰的磁性樣品圖像。最后，王守國表示，使用汞燈時，LEEM分辨率小于5 nm，PEEM分辨率小于10 nm；使用DUV時，可以獲得MLC/MCD對比度圖像，分辨率可達43.2 nm；使用MBE-PEEM系統式，可以原位沉積和PEEM成像。

徠卡顯微系統（上海）貿易有限公司武素芳

　　由徠卡顯微系統（上海）貿易有限公司武素芳帶來會議報告，題目是“徠卡電鏡制樣的最新進展”。武素芳首先介紹了徠卡用于含水樣品的冷凍傳輸系統。武素芳表示，在冷凍固定階段，徠卡的VCM可以實現自動控制并且可以對接多種平臺。之后，將冷凍完成的樣品送至ACE斷裂平臺和鍍膜平臺，在樣品前處理完成后，通過徠卡的冷凍平臺移置冷凍電鏡內進行后續觀察。隨后，武素芳介紹了使用這套平臺的實際分析案例。最后，武素芳介紹了徠卡三離子束拋光儀TIC 3X。武素芳表示，這款設備除了可以切平面外，還可以對進行物品拋光，尤其對于材質較軟或難以通過傳統機械加工的樣品有很好的加工結果。

聚束科技(北京)有限公司總經理何偉

　　最后，由聚束科技(北京)有限公司總經理何偉帶來會議報告，題目是“高通量掃描電鏡的應用---從半導體到腦科學”。何偉表示，高通量SEM產生于半導體工業檢測，其需要低壓高分辨、采圖快、定位準以及全自動化的要求。因此聚束科技通過特種定置化高通量SEM，為科研及相關產業研制Hi-TPT SEM。聚束科技研制的高通量SEM采用場發射加直接電子探測器、電磁復合透鏡加搖擺浸沒物鏡以及全稱高度智能化設計。通過與傳統SEM比對，高通量SEM無論在采樣速度、圖片刷新率，還是分辨率等均遠超傳統SEM。

　　部分參展廠商：