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安捷倫科技（中國）有限公司
J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統軟件中的PCA工具是使用LIBS、質譜或兩個光譜對各種樣品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地質礦物等)進行分類或鑒別的理想方法
J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）專為處理痕量元素分析而設計-那些需要高靈敏度和準確性的分析，該儀器能夠監測具有分析意義的單個或多個元素
Aurora在光譜分辨率和檢測靈敏度之間取得了正確的平衡-從UV到NIR光譜范圍。
J200飛秒激光剝蝕進樣系統將飛秒激光源技術可靠性提升到一個新高度，系統采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化。
J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性，無需高度匹配的標準物質，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。
可實現礦物剖面的氦含量分析， 另外該技術提供的時間和溫度的輸出數據主要應用市場包括石油和礦產勘探領域，相對于傳統方法，提高了精確度和準確度
J200 Femto iX LA源自于應用光譜公司旗艦級LA飛秒J100系統，數字化質量流量控制器（MFC）和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送。
