從毫米到納米的超大范圍觀察和測(cè)量自由切換多種顯微鏡觀察模式

　　OLYMPUS LEXT OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及掃描探針顯微鏡(SPM)功能的一體機(jī)。LEXT OLS4500可以滿足不同樣品的觀測(cè)需求，是一臺(tái)新時(shí)代的觀察、測(cè)量裝置。

　　LEXT OLS4500可以輕松實(shí)現(xiàn)從毫米到納米的觀察和測(cè)量，放大倍率由幾十倍到高達(dá)百萬(wàn)倍。找到觀測(cè)目標(biāo)(觀察對(duì)象)后，您可以在光學(xué)顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔(dān)心目標(biāo)丟失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正確的完成觀察，大大縮短了獲取影像的時(shí)間。這些便是 OLS4500一體機(jī)的自由操作帶給您的益處。

　　更加方便、更加順利地完成超大范圍觀察和測(cè)量。

　　實(shí)現(xiàn)了自由切換操作的LEXT OLS4500，閃亮登場(chǎng)。

　　♦ 光學(xué)顯微鏡的原理和特長(zhǎng)

　　光學(xué)顯微鏡是從樣品上方照射可見(jiàn)光(波長(zhǎng)約400nm~800nm)，利用其反射光成像，能夠放大樣品數(shù)十倍到一千倍左右進(jìn)行觀察。光學(xué)顯微鏡的特長(zhǎng)是可以真實(shí)觀察彩色樣品，還可以切換觀察方法，強(qiáng)調(diào)樣品表面的凹凸，利用物質(zhì)特性(偏光性)進(jìn)行觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。

　　● 明視場(chǎng)觀察：zei基本的觀察方法，通過(guò)樣品的反射光成像進(jìn)行觀察

　　● 微分干涉觀察：給樣品表面的微小凹凸添加明暗對(duì)比，使之變?yōu)榭梢暤牧Ⅲw影像

　　● 簡(jiǎn)易偏振光觀察：照射偏振光 (有著特定振動(dòng)方向的光線)，把樣品的偏光性變?yōu)榭梢曈跋?/p>

　　♦ 激光顯微鏡的原理和特長(zhǎng)

　　可進(jìn)行亞微米級(jí)觀察和測(cè)量的激光顯微鏡(LSM: Laser Scanning Microscope)

　　光學(xué)顯微鏡的平面分辨率很大程度取決于光的光子和波長(zhǎng)，采用短波長(zhǎng)的激光顯微鏡(LSM) 比采用可見(jiàn)光的傳統(tǒng)顯微鏡，擁有更高的平面分辨率。

　　LEXT OLS4500采用405nm的短波長(zhǎng)半導(dǎo)體激光、高數(shù)值孔徑的專(zhuān)用物鏡、以及獨(dú)特的共焦光學(xué)系統(tǒng)，可以達(dá)到0.12µm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奧林巴斯獨(dú)有的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實(shí)現(xiàn)高達(dá)4096×4096像素的高精度XY掃描。

　　卓越的Z軸測(cè)量

　　激光顯微鏡采用短波長(zhǎng)半導(dǎo)體激光和獨(dú)有的雙共焦光學(xué)系統(tǒng)，會(huì)刪除未聚焦區(qū)域的信號(hào)，只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測(cè)為同一高度。同時(shí)結(jié)合高精度的光柵讀取能力，可以生成高畫(huà)質(zhì)的影像，實(shí)現(xiàn)精確的3D測(cè)量。

　　♦ 探針顯微鏡的原理和特長(zhǎng)

　　可以觀察納米級(jí)微觀世界的探針顯微鏡(SPM: Scanning Probe Microscope)

　　探針顯微鏡(SPM)是通過(guò)機(jī)械式地用探針在樣品表面移動(dòng)，檢測(cè)出探針與樣品之間產(chǎn)生的力、電的相互作用，同時(shí)進(jìn)行掃描，從而得到樣品影像。探針尖端曲率半徑為10nm左右。典型的探針顯微鏡是原子力顯微鏡(AFM：Atomic Force Microscope)，它通過(guò)檢測(cè)探針和樣品表面之間作用的引力和張力進(jìn)行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能夠觀察納米級(jí)微觀形貌，可以捕捉到樣品zei精細(xì)的一面。

　　通過(guò)微懸臂掃描進(jìn)行納米級(jí)觀察

　　OLS4500上采用了光杠桿法——通過(guò)高靈敏度檢測(cè)出zei前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量(位移)來(lái)進(jìn)行觀測(cè)的方法。在懸臂的背面反射激光，并用壓電元件驅(qū)動(dòng)Z軸，使激光照射到光電檢測(cè)器的指定位置，從而正確讀取Z方向的微小位移。

　　多種觀察模式在影像中呈現(xiàn)表面形狀和物性

　　探針顯微鏡擁有多種觀察模式，可以觀察、測(cè)量樣品表面的形狀，還可以進(jìn)行物性分析。OLS4500配有以下模式。

　　● 接觸模式：在影像中呈現(xiàn)表面形狀(較硬的表面)

　　● 動(dòng)態(tài)模式：在影像中呈現(xiàn)表面形狀 (較軟的表面，有粘性的表面)

　　● 相位模式：在影像中呈現(xiàn)樣品表面的物性差

　　● 電流模式*：檢測(cè)出探針和樣品之間的電流并輸出圖像

　　● 表面電位模式(KFM) * ：在影像中呈現(xiàn)樣品表面的電位

　　● 磁力模式(MFM)*：在影像中呈現(xiàn)樣品表面的磁性信息

　　*該模式為選項(xiàng)功能。

　　決定高精細(xì)度、高質(zhì)量影像的微懸臂

　　探針位于長(zhǎng)度約100µm~200µm的薄片狀微懸臂的前端。您可以根據(jù)樣品選擇不同的彈簧常數(shù)、共振頻率。反復(fù)掃描會(huì)磨損探針，所以請(qǐng)根據(jù)需要定期更換微懸探針。

OLS4500納米檢測(cè)顯微鏡由島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司/島津（香港）有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于OLS4500納米檢測(cè)顯微鏡 報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來(lái)電或留言咨詢。

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